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高低温冲击烘箱、冷热冲击试验箱

高低温冲击烘箱、冷热冲击试验箱

简要描述:

高低温冲击烘箱、冷热冲击试验箱适用于电子、汽车配件、塑胶等行业,测试各种材料对高、低温的反复冲击能力。检测产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害,确保产品的品质。

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 SECS / GEM是用于设备到主机数据通信的半导体设备接口协议。在自动化工厂中,接口可以启动和停止设备处理,收集测量数据,更改变量并为产品选择配方。 SECS(SEMI设备通信标准)/ GEM(通用设备模型)标准以确定的方式完成所有这些工作。  由SEMI(半导体设备和材料国际)组织开发,该标准定义了一套通用的设备行为和通信能力。

高低温冲击烘箱、冷热冲击试验箱 概述

高低温冲击烘箱、冷热冲击试验箱适用于电子、汽车配件、塑胶等行业,测试各种材料对高、低温的反复冲击能力。检测产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害,确保产品的品质。

特点

  • 三箱设备区分为:高温区、低温区、测试区三部分,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。
  • 采用触控式图控操作介面,操作筒易。
  • 冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区,做冷热冲击测试。

Ø  高温冲击或低温冲击时,最大时间可达999H,最大循环周期可达9999次。

  • 系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。
  • 冷却采二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为水冷式。

Ø  可以试验冲击常温执行满足标准及试验方法: GJB150.5 温度冲击试验;GJB360.7温度冲击试验;GB/2423.22 温度冲击试验

符合标准

  • GJB 150.5A-2009 温度冲击试验
  • GB/T 2424.13-2002 温度冲击试验
  • GJB 360B-2009 温度冲击试验
  • GB/T 2423.2-2008 高温试验方法
  • GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007 低温试验方法
  • GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
  • GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件规 
  • 所有符合GEM的生产设备都具有*的界面和一定的行为。 GEM设备可以使用TCP / IP(使用HSMS标准,SEMI E37)或基于RS-232的协议(使用SECS-I标准,SEMI E4)与支持GEM的主机进行通信。通常这两种协议都受支持。每台设备都可以使用由GEM指定的通用SECS-II消息进行监控和控制。  还有许多额外的SEMI标准和工厂规范参考了GEM标准的特点。

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