高低温冲击试验箱，温循冲击箱是模拟试品在温度变化环境条件对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等。
高低温冲击试验箱，温循冲击箱简介：
高低温冲击试验箱是模拟GB/T10589-2008低温试验箱等技术条件；GB/T11158-2008高温试验箱技术条件制造，主要为航天、航kong、石油、化工、军事、汽车（摩托车）、船舶、电子、通讯等科研及生产单位提供温湿度变化环境，模拟试品在温度变化环境条件对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等。
高低温冲击试验箱，温循冲击箱技术指标：
1. 提篮尺寸尺寸：300×300×300mm (深×宽×高)
2. 工作室尺寸：500×600×500mm (深×宽×高)
3.温度参数：
温度冲击范围：-65℃～＋150℃
温度波动度：≤±0.5℃
温度均匀度：≤2℃（空载、恒定状态下）
温度偏差度：±2.0℃（空载、恒定状态时）
转换时间：≤10S
温度恢复时间：≤5 min
4.温度冲击方式
通过试验样品在测试室移动，左右移动拉动样品在高温室和低温室之间进行温度冲击。
两箱式温度循环冲击，试样物品在移动提篮中，循环过程自动控制，停留及转换时间可调
5.满足标准
GB/T 2423.22 -2012Na 电工电子产品环境试验；
GB 10592-2008高、低温试验箱技术条件；
GB/T 2423.1-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法；
GB/T 2423.2-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法；
