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-65度三箱冲击试验箱,三箱法高低温冲击箱

-65度三箱冲击试验箱,三箱法高低温冲击箱

简要描述:

-65度三箱冲击试验箱,三箱法高低温冲击箱
1.GJB 150.5A-2009温度冲击试验
2.GJB 360B-2009温度冲击试验
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

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-65度三冲击试验箱,三箱法高低温冲击箱
机型 :JS-CJ100/10

内箱容积:50/80/100/150L,可定制
测试环境条件: 环境温度为+25℃、试验箱内无试样条件下
测试方法: GB/T 5170.2-1996 温度试验设备
高温室:
预温度范围 :RT~+200℃
升温时间 :RT+10℃→+200℃ ≤40min
低温室:
预冷温度范围: RT~-100℃
降温时间: RT → -100℃≤60min
试验室(试样区)
试验方式 :气动风门切换
3 温区冲击试验条件(高温-常温-低温)
2 温区冲击试验条件(高温-低温)
温度冲击范围: -65℃~ +150℃
温度波动度: ±0.5℃
温度偏差: ±2.0℃
温度恢复时间: ≤5min
恢复条件试样:塑料封装集成电路(均布)
传感器位置:试样的上风侧
高温曝露: RT~+150℃:≥30分钟
环境温度曝露:常温
低温曝露: RT~-65℃:≥30分钟
试样重量:4.5kg(如需要放置重的试样,请提前告知)
制冷方式:水冷
-65度三冲击试验箱,三箱法高低温冲击箱控制器:
种类: 触摸智能式温度控制器
显示器: 彩色触摸式液晶显示
运行方式: 程序方式
设定方式:全中文液晶显示(中英文可切换)LCD触摸式面板(耐100.000次画线试验)
程序容量: 可使用的程序量:最大 120 组,1 个程序可由 1~99 段次组合而成;
可使用的记忆容量: 1200 段,可重复执行命令:每一个命令可达 999 次,程序斜率设定可由时间轴来设定,程序间可设定联结使用,程序之制作采用对谈式,操作简单具有编辑,清除,插入等功能,4 组时间信号输出控制(可控制待测物 ON/OFF 动作)具有 9 组 PID 参数设定,程序执行中具有跳段,保持功能,可显示曲线,数据采集;日期、时间调整功能;按键及画面锁定(LOCK)功能,可连接计算机。
显示分辨率: 温度分辨:0.1℃;时间分辨:0.1min
温度输入 :PT100
控制方式: 抗积分饱和PID,BTC平衡调温控制方式
曲线记录功能: 程序执行时可实时显示图形曲线
附属功能 :具有断电程序记忆,复电后自动启动并接续执行程序功能,具有日期,时间调整,预约启动,关机功及画面锁定(LOCK)功能。
三箱法高低温冲击箱满足试验标准
1.GJB 150.5A-2009温度冲击试验
2.GJB 360B-2009温度冲击试验 
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件

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