微型高低温箱，IC用高 低温测试箱适用于IC,PCB板、晶圆，可控硅，半导体，电阻、电容、电工、电子产品、家用电器、汽摩配件、化工涂料、各种电子元器件及其他相关产品零部件在高温、低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，考核其各项性能指标。可单独做高温、低温；也可用于高温、低温的循环试验。
JS-GDW002高低温试验箱
微型高低温箱，IC用高 低温测试箱特点及用途
微型高低温试验箱适用于IC,PCB板、晶圆，可控硅，半导体，电阻、电容、电工、电子产品、家用电器、汽摩配件、化工涂料、各种电子元器件及其他相关产品零部件在高温、低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，考核其各项性能指标。可单独做高温、低温；也可用于高温、低温的循环试验。
《GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件》
《GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件》
《GB/T 2421/2/3/4-2008 电工电子产品环境试验》
《GJB 150A-2009 军装备实验室环境试验方法》
《GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法》
《JJF 1101-2003 环境试验设备温度、湿度校准规范》
《GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备》
微型高低温箱，IC用高 低温测试箱主要技术参数：
1、温度范围： -75、-40℃~150℃；
2、温度波动度：≤±0.5℃；
3、温度均匀度：≤±2℃ ；
4、内腔尺寸（W×H×D)：300×300×225 （mm）；
5、外形尺寸（W×H×D)：460×910×785 （mm）；
6、电源： 220V 50Hz 2.5KW。
